Scopo del lavoro e' studiare le problematiche legate ai fenomeni
di scariche elettrostatiche (ESD) nei circuiti integrati CMOS,
e fornire una nuova soluzione per una delle strutture utilizzate,
dedicata alla protezione delle linee di alimentazione.
Il tirocinio ha richiesto lo studio dell'ambiente di sviluppo OPUS
e delle problematiche di guasto dei circuiti integrati.
Sede Tirocinio: STMicroelectronics - Agrate
Durata : 4 mesi
Tale soluzione, pur mantenendo le caratteristiche di intervento
di strutture simili, e' ottimizzata a livello di area occupata su silicio.